Смолин, Анатолий Александрович, Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», Россия
-
Том 23, № 3 (2016) - НАУЧНЫЕ СТАТЬИ
Анализ основных подходов к моделированию эффектов сбоев в изделиях микроэлектроники при воздействии отдельных ядерных частиц
Аннотация PDF
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.
Budapest Open Access Initiative.
ISSN: 2074-7128 (Print)
ISSN: 2074-7136 (On-Line)
Budapest Open Access Initiative.
ISSN: 2074-7128 (Print)
ISSN: 2074-7136 (On-Line)