ВЫЯВЛЕНИЕ ПРИЗНАКОВ КОНТРАФАКТА В ИЗДЕЛИЯХ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ В АСПЕКТЕ ОБЕСПЕЧЕНИЯ ПРОМЫШЛЕННОЙ КИБЕРБЕЗОПАСНОСТИ
Аннотация
В программе цифровизации экономик развитых стран выделяется относительно новое направление развития так называемых киберфизических систем управления, в частности, промышленными технологическими процессами, что мотивирует постановку нетрадиционных задач по обеспечению безопасности критически важных объектов информационной инфраструктуры. Очевидной угрозой потери устойчивости технологических процессов является использование контрафактной элементной базы в условиях наблюдаемого общего увеличения доли контрафактной продукции, в том числе и в изделиях электронной компонентной базы. Поэтому появляется объективный запрос на системное решение проблемы выявления контрафакта не только с позиций охраны объектов интеллектуальной собственности, но и в аспекте обеспечения промышленной безопасности в ходе сертификации соответствующих технических решений. Учитывая, что для испытательных центров и лабораторий такая постановка связана с организацией достаточно нового вида деятельности в условиях недостаточности соответствующей нормативной базы. В работе проведен обзор зарубежных нормативных документов, определяющих методы и средства выявления контрафакта в радиоизделиях, который может быть использован в качестве начальной основы для формирования отечественной нормативной базы.
Ключевые слова
Полный текст:
PDFЛитература
1. Лактионов А.В., Левин Р.Г., Емельянова И.В., Ершов Л.А., Малютенкова С.Э. Опыт выявления электронных компонентов с признаками контрафактного происхождения в ИЦ АО «РНИИ «Электронстандарт». Петербургский журнал электроники № 1 (90) 2018. С. 27–46.
2. Венедиктов К.А., Голубев А.А., Емельянова И.В., Малютенкова С.Э., Лактионов А.В., Звягина М.И., Ямщиков Ю.А. Выявление контрафактных электронных компонентов методами физикотехнического анализа. Доклад на международной научно-технической конференции «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой» «СЕРТИФИКАЦИЯ ЭКБ-2017». «РНИИ «Электронстандарт», Санкт-Петербург, 2017 г.
3. Ершов Л., Левин Р., Батурин А., Коломенская Н., Емельянова И., Кононов В. Что такое контрафакт и как с ним бороться. Нормативная основа и практика выявления контрафактных электронных компонентов. Электроника: наука, технология, бизнес. № 6 (156) 2016. Техносфера, Москва, C. 88–93.
4. Малинин В.Г. Методы выявления контрафактной электронной компонентной базы иностранного и отечественного производства при поставках для комплектации аппаратуры особо надежных объектов. Тезисы докладов IV Всероссийской научно-технической конференции секции ЭКБ «Импортозамещение. Обеспечений предприятий промышленности электронной компонентной базой отечественного производства», «Тестприбор», Москва, 2015 г. С. 63–68.
5. Балыбин С.В., Белов Е.Н., Федорец В.Н. Проблемы информационной безопасности военной техники, использующей интегральные схемы иностранного производства. Военная мысль. № 12 2011. С. 11–21.
6. Белов Е.Н., Пономарев А.А., Семенов А.В., Федорец В.Н. Угрозы информационной безопасности вооружения и военной специальной техники, укомплектованных электронной компонентной базой иностранного производства. Военная мысль. № 12 2013. С. 35–43.
7. Перспективные технологии защиты микросхем от обратного проектирования в контексте информационной безопасности [Текст] / Е.Н. Белов, С.В. Балыбин, А.А. Пономарев [и др.]; под ред. В.Н. Федорца. – М.: Техносфера, 2017. 215 с.
8. Кессаринский, Леонид Н. et al. Идентификация элементной компонентной базы киберфизических систем. Безопасность информационных технологий, [S.l.], v. 25, n. 3, p. 67-78, 2018. ISSN 2074-7136. URL: (дата обращения: 12.02.2019). doi:http://dx.doi.org/10.26583/bit.2018.3.07.
9. Дураковский А.П., Кессаринский Л.Н, Ширин А.О., Артамонов А.С., Бойченко Д.В., Тайибов Ф.Ф. Идентификация элементной компонентной базы с целью исключения контрафакта и анализа результатов радиационных испытаний. Актуальные направления развития систем охраны, специальной связи и информации для нужд органов государственной власти Российской Федерации: XI Всероссийская межведомственная научная конференция: материалы и доклады (Орёл, 5–6 февраля 2019 года). В 10 ч. Ч. 5 / под общ. ред. П. Л. Малышева. – Орёл: Академия ФСО России, 2019. C. 65–67.
10. ГОСТ Р 57880-2017 Система защиты от фальсификаций и контрафакта. Электронные изделия. Предотвращение получения, методы обнаружения, сокращение рисков применения и решения по использованию фальсифицированной и контрафактной продукции.
11. ГОСТ Р 57881-2017 Система защиты от фальсификаций и контрафакта. Термины и определения.
12. ГОСТ Р 57882-2017 Система защиты от фальсификации и контрафакта. Изделия электронные. Критерии верификации для оценки соответствия практики и методов организаций требованиям по противодействию обороту фальсифицированной и контрафактной продукции.
13. Материалы VI Международного форума «Антиконтрафакт – 2018». Итоговые документы. Москва. С. 155.
14. Урличич Ю., Данилин Н., Чернов Д., Белослудцев С. Контрафактная продукция на рынке электронных компонентов. Современная электроника № 5/2006. С. 7.
15. Материалы VI Международного форума «Антиконтрафакт – 2018». Итоговые документы. Москва. С. 33.
16. Рыков И. Как выявить контрафактные электронные компоненты? Технологии в электронной промышленности. № 4/2013. С. 75.
17. Boby A. Detection and Avoidance Measures of IC Counterfeits: A Survey. Australian Journal of Basic and Applied Sciences, 8 (18) December 2014. P. 37–42.
18. Семенов А.В., Федорец В.Н. Выявление контрафакта внутри однородной партии микросхем при измерении s-параметров. «Проблемы разработки перспективных микро – и наноэлектронных систем. (МЭС)» №3/2014, C. 21–24.
19. Семенов А.В., Федорец В.Н., Старцев В.Н. Контроль однородности партии типовых микросхем при измерении радиочастотных характеристик. «Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем. (МЭС)» № 3/2016. C. 49–56.
20. Семенов А.В., Старцев В.Н., Степанов Е.Н. Технометрическая идентификация микросхем для контроля жизненного цикла и поиска контрафакта. «Проблемы разработки перспективных микро – и наноэлектронных систем. (МЭС)» №4/2018. C. 143–148.
21. Семенов А.В., Балыбин С.В, Потапов А.Ю., Федорец В.Н. Способ контроля идентичности изделий в партии однотипных микросхем. Патент № RU 179137 U1.
22. Ujjwal Guin, Daniel DiMase, Mohammad Tehranipoor. “A Comprehensive Framework for Counterfeit Defect Coverage Analysis and Detection Assessment”. Journal of Electronic Testing. Febluary 2014.
DOI 10.1007/s10836-013-5428-2.
23. Руководящий материал. AS6171:2016. Табл.6, 7. Test Methods Standard; General Requirements, Suspect/Counterfeit, Electrical, Electronic, and Electromechanical Parts. SAE International.
24. Фролова А. «Основные методы определения контрафактной продукции. Из практики испытательной лаборатории ООО «ПетроИнТрейд». Вестник электроники № 3 /2011. С. 44–46.
25. Поддельные микросхемы ST TDA7293. Вскрытие показало. Радиодетали и электронные компоненты. Обзор. 12 мая 2018 г. www.Akinava.ru.
26. John M. Radman and Daniel D. Phillips.Новые подходы к обнаружению контрафактных электронных компонентов. Журнал «IN COMPLIANCE», OCTOBER 2010.
27. Даниэль Оливье. «5 методов, используемых для обнаружения контрафактных электронных компонентов». Бюллетень «JJS manufacturing»:URL: https://www.jjsmanufacturing.com (дата обращения: 15. 03. 2018 г.)
28. Zhang X., Xiao K., Tehranipoor M. Path-delay fingerprinting for identification of recovered ICs // Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2012 IEEE International Symposium. 3-5 Oct. 2012. Р. 13–18. doi: 10.1109/DFT.2012.6378192.)
29. Кононов В.К., Ершов Л.А., Левин Р.Г. и др. Новые стандарты в области подтверждения соответствия и предотвращения контрафакта и подделок. Петербургский журнал электроники, 1/2015. C. 30–46.
DOI: http://dx.doi.org/10.26583/bit.2019.2.09
Ссылки
- На текущий момент ссылки отсутствуют.
Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution» («Атрибуция») 4.0 Всемирная.