ИЗМЕРЕНИЕ КРИТЕРИАЛЬНЫХ ПАРАМЕТРОВ АНАЛОГО-ЦИФРОВЫХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ И КОНТРОЛЬ ИХ ИЗМЕНЕНИЯ ВО ВРЕМЯ РАДИАЦИОННОГО ЭКСПЕРИМЕНТА

Роман С. Торшин, Георгий С. Сорокоумов, Дмитрий В. Бобровский, Александр А. Демидов, Анастасия В. Уланова

Аннотация


В данной работе апробируется метод тестирования микросхем аналого-цифровых преобразователей (АЦП), предназначенный для измерения основных параметров преобразователей методом гистограмм (или плотности кода). Данный метод хорошо подходит для современных высокочастотных АЦП с широкой полосой, совместим со стандартным программным обеспечением персональных компьютеров (ПК) и оценочных плат производителей АЦП, дает возможность на том же оборудовании определять и динамические характеристики АЦП, используя методы цифровой обработки сигнала (ЦОС). В качестве контрольно-измерительного оборудования, необходимого для проведения теста, использовались модульные измерительные приборы фирмы National Instruments, а также генератор сигналов SMA100B фирмы ROHDE&SCHWARZ. С помощью данного метода вычислены основные статические и динамические параметры АЦП AD7888. Приведена деградация критериальных параметров АЦП AD7888 при воздействии поглощенной дозы на рентгеновском источнике «РИК-0401».

Ключевые слова


аналого-цифровой преобразователь, метод гистограмм, статические параметры АЦП, динамические параметры АЦП, тестирование микросхем, поглощенная доза.

Полный текст:

PDF

Литература


1. Кестер У. Аналого-цифровое преобразование. – М.: Техносфера, 2007. – 1016 с. ISBN 978-5-94836-146-8.

2. W. Kester, "A Brief History of Data Conversion: A Tale of Nozzles, Relays, Tubes, Transistors, and CMOS," in IEEE Solid-State Circuits Magazine. Vol. 7, no. 3. P. 16–37, Summer 2015.
DOI: https://doi.org/10.1109/MSSC.2015.2442371.

3. Торшин Р.С. / Проявление сбоев при воздействии ТЗЧ в современном ЦАП / Сорокоумов Г.С., Бобровский Д.В., Демидов А.А., Калашников О.А., Телец В.А. // 22-я Всероссийская научно-техническая конференция «Стойкость-2019»: тезисы докладов. 2019, Лыткарино, 4-5 июня. C. 244–245.

4. Kester W. / Mixed-Signal and DSP Design Techniques. – M.: Newnes/Elsevier, 2002. – 611 c.

5. I.O. Loskutov, A.B. Karakozov and P.V. Nekrasov, "Automated test setup for functional and parametrical control of microcontrollers with internal ADC," 2016 International Siberian Conference on Control and Communications (SIBCON), Moscow, 2016. P. 1–4. DOI: https://doi.org/10.1109/SIBCON.2016.7491799.

6. IEEE Standard for Terminology and Test Methods for Analog-to-Digital Converters," in IEEE Std 1241-2010 (Revision of IEEE Std 1241-2000). P. 1–139, 14 Jan. 2011,
DOI: https://doi.org/10.1109/IEEESTD.2011.5692956.

7. A.O. Akhmetov et al., "Proton Accelerator's Direct Ionization Single Event Upset Test Procedure," 2019 IEEE 31st International Conference on Microelectronics (MIEL), Nis, Serbia, 2019. P. 107–110,
DOI: https://doi.org/10.1109/MIEL.2019.8889634.

8. A.Y. Egorov, I.A. Mozhaev, P.V. Nekrasov, D.V. Boychenko and I.O. Loskutov, "Comparison of on-chip ADC testing techniques," 2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics (MIEL), Nis, 2017. P. 247–250. DOI: https://doi.org/10.1109/MIEL.2017.8190113.

9. Барбашов, Вячеслав М.; Kалашников, Олег А. Функционально-логическое моделирование дозовых радиационных отказов сф-блоков систем на кристалле. Безопасность информационных технологий, [S.l.]. Т. 24, № 4. P. 80–86, ноябрь 2017. ISSN 2074-7136.
URL: https://bit.mephi.ru/index.php/bit/article/view/283 (дата обращения: 20.07.2020).
DOI: http://dx.doi.org/10.26583/bit.2017.4.09.

10. Чумаков А.И. и др. Оценка показателей стойкости интегральных схем при воздействии тяжелых заряженных частиц с использованием различных моделей. Безопасность информационных технологий, [S.l.]. Т. 24, № 1. C. 73–84, 2017. ISSN 2074-7136. URL: https://bit.mephi.ru/index.php/bit/article/view/58. DOI: http://dx.doi.org/10.26583/bit.2017.1.09.

11. Никифоров А.Ю. / Радиационные эффекты в КМОП ИС.//Телец В.А., Чумаков А.И. – M.: Радио и связь, 1994. – 165 c.

12. Чумаков А.И. / Действие космической радиации на интегральные схемы. – М. – Радио и связь, 2004. – 319 с.

13. Dressendorfer P.V. / Ionizing Radiation Effects in MOS devices and Circuits, // T.P.Ma. – M.: Willey, 1989. – 587 р.

14. Demidov, Alexander & Kalashnikov, Oleg & Nikiforov, A. & Tararaksin, Alexander & Telets, Vitaly. (2015). Radiation Behavior and Test Specifics of A-D and D-A Converters. Informacije MIDEM. 45. 153-159.

15. A.B. Karakozov, P.V. Nekraso, D.V. Bobrovsky, G.S. Sorokoumov and V.A. Telets, "Single Event Effects And Total Dose Testing Of Digital To Analog Converters," 2017 17th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), Geneva, Switzerland, 2017. P. 1–5,
DOI: https://doi.org/10.1109/RADECS.2017.8696263.




DOI: http://dx.doi.org/10.26583/bit.2020.3.07

Ссылки

  • На текущий момент ссылки отсутствуют.


Лицензия Creative Commons
Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution» («Атрибуция») 4.0 Всемирная.