ФУНКЦИОНАЛЬНО-ЛОГИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ДОЗОВЫХ РАДИАЦИОННЫХ ОТКАЗОВ СФ-БЛОКОВ СИСТЕМ НА КРИСТАЛЛЕ

Вячеслав М. Барбашов, Олег А. Калашников

Аннотация


Рассмотрена методика функционально-логического моделирования дозовых радиационных отказов систем на кристалле, основанная на методе критериальных функций принадлежности. Проведен анализ возможностей данного подхода для определения работоспособности СФ-блоков и влияния на нее режимов функционирования. Исследованы особенности применения методики для моделирования дозовых радиационных отказов различных типов СФ-блоков: логических элементов, блоков и ячеек памяти, процессоров. Приведены примеры построения критериальных функций принадлежности и функций работоспособности этих СФ-блоков по различным критическим параметрам, характеризующим их отказы. Показано, что при моделировании дозовых отказов необходимо учитывать влияние режима функционирования в процессе облучения на параметры моделей. Предложенная методика позволяет повысить достоверность оценки показателей радиационной стойкости СнК, в том числе с целью решения задач обеспечения информационной безопасности радиоэлектронной аппаратуры.

Ключевые слова


СнК; дозовые радиационные отказы; функционально-логическое моделирование

Полный текст:

PDF

Литература


1 В. Немудров, Г. Мартин. Системы-на-кристалле. Проектирование и развитие. М.: Техносфера, 2004. – 216 с.

2 А.Ю. Никифоров, В.А. Телец. Радиационная стойкость электронной компонентной базы систем специальной техники и связи//Спецтехника и связь, 2011, № 4-5, с. 2-3.

3 О.А. Калашников, П.В. Некрасов, А.Ю. Никифоров, и др. Системы на кристалле: особенности радиационного поведения и оценка радиационной стойкости // Микроэлектроника, 2016, том 45, №1, С. 36-43.

4 А.Ю. Никифоров, П.К. Скоробогатов, М.Н. Стриханов, В.А. Телец, А.И. Чумаков. Развитие базовой технологии прогнозирования, оценки и контроля радиационной стойкости изделий микроэлектроники//Известия вузов. Электроника, 2012, № 5 (97), с. 18-23.

5 Д.В. Бобровский, Г.Г. Давыдов, А.Г. Петров, и др. Реализация базовых методов радиационных испытаний ЭКБ на основе аппаратно-программного комплекса аппаратуры National Instruments // Известия вузов. Электроника, №5(97), 2012, С. 91-104.

6 О.А. Калашников. Расчетно-экспериментальное моделирование дозовых радиационных функциональных отказов цифровых СБИС // Безопасность информационных технологий, 2016-3, С. 34-39.

7 Е.Р. Аствацатурьян, В.А. Беляев, Н.С. Трушкин. Функционально-логическое моделирование радиационного поведения цифровых устройств // Препринт МИФИ, 016-93, 1993, 28 с.

8 Г.Г. Давыдов, А.В. Согоян, А.Ю. Никифоров, и др. Методика оперативного неразрушающего контроля дозовой стойкости КМОП БИС на КНС структурах//Микроэлектроника, 2008, том 37, № 1, с. 67-77.

9 А.Б. Боруздина, А.В. Уланова, Н.Г. Григорьев, А.Ю. Никифоров. Дозовая деградация динамических параметров микросхем памяти // Микроэлектроника, 2012, т. 41, № 4, с. 284-290.

10 П.В.Некрасов, А.А.Демидов, О.А.Калашников. Функциональный контроль микропроцессоров при проведении радиационных испытаний // Приборы и техника эксперимента, № 2, Март-Апрель 2009, С. 48-52.

11 Д.В.Бобровский, В.С.Волин, П.В.Некрасов, О.А.Калашников, Ю.С.Рябцев. Радиационная стойкость микропроцессоров семейства "МЦСТ-R" // Вопросы радиоэлектроники, серия ЭВТ, выпуск 3, 2010 г.

12 В.В. Елесин, Г.Н. Назарова, Г.В. Чуков, Ю.А. Кабальнов, А.А. Титаренко. Исследование возможности разработки радиационно-стойких БИС навигационного назначения по отечественной КМОП КНИ технологии с нормами 0.35 мкм // Микроэлектроника, 2012, т. 41, № 4, с. 291-303.




DOI: http://dx.doi.org/10.26583/bit.2017.4.09

Ссылки

  • На текущий момент ссылки отсутствуют.


Лицензия Creative Commons
Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution» («Атрибуция») 4.0 Всемирная.