РАЗВИТИЕ ТЕРМИНОЛОГИИ НОРМАТИВНОЙ БАЗЫ ИСПЫТАНИЙ НА ВЫЯВЛЕНИЕ ПРИЗНАКОВ КОНТРАФАКТА В ИЗДЕЛИЯХ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ АППАРАТУРЫ ОБЪЕКТОВ КРИТИЧЕСКОЙ ИНФОРМАЦИОННОЙ ИНФРАСТРУКТУРЫ

Анатолий П. Дураковский, Леонид Н. Кессаринский, Алексей О. Ширин

Аннотация


Целью статьи является разработка предложений по формированию нормативного поля систем защиты от фальсификаций и контрафактной продукции, однозначно понимаемого набора терминов, сокращений и определений на основе гармонизированных отечественных и зарубежных стандартов в этой области. В программе цифровизации экономик развитых стран выделяется относительно новое направление развития так называемых киберфизических систем управления, в частности, промышленными технологическими процессами, что мотивирует постановку нетрадиционных задач по обеспечению безопасности критически важных объектов информационной инфраструктуры. Очевидной угрозой потери устойчивости технологических процессов является использование контрафактной элементной базы в условиях наблюдаемого общего увеличения доли контрафактной продукции, в том числе и в изделиях электронной компонентной базы. Поэтому появляется объективный запрос на системное решение проблемы выявления контрафакта не только с позиций охраны объектов интеллектуальной собственности, но и в аспекте обеспечения промышленной безопасности в ходе сертификации соответствующих технических решений. Учитывая, что для испытательных центров и лабораторий такая постановка связана с организацией достаточно нового вида деятельности в условиях недостаточности соответствующей нормативной базы. В работе проведен обзор зарубежных нормативных документов, определяющих методы и средства выявления контрафакта в радиоизделиях, который может быть использован в качестве начальной основы для формирования отечественной нормативной базы.


Ключевые слова


идентификация, контрафакт, элементная компонентная база, микроэлектроника.

Полный текст:

pdf

Литература


1. Белов Е.Н., Пономарев А.А., Семенов А.В., Федорец В.Н. Угрозы информационной безопасности вооружения и военной специальной техники, укомплектованных электронной компонентной базой иностранного производства. Военная мысль. № 12, 2013. С. 35–43.

2. ГОСТ Р 57882-2017 Система защиты от фальсификации и контрафакта. Изделия электронные. Критерии верификации для оценки соответствия практики и методов организаций требованиям по противодействию обороту фальсифицированной и контрафактной продукции.

3. Постановление Правительства Российской Федерации № 127 от 08.02.2018 «Об утверждении Правил категорирования объектов критической информационной инфраструктуры Российской Федерации».

4. Лактионов А.В., Левин Р.Г., Емельянова И.В., Ершов Л.А., Малютенкова С.Э. Опыт выявления электронных компонентов с признаками контрафактного происхождения в ИЦ АО «РНИИ «Электронстандарт». Петербургский журнал электроники № 1 (90) 2018. С. 27–46.

5. Дураковский А.П., Кессаринский Л.Н, Ширин А.О., Артамонов А.С., Бойченко Д.В., Тайибов Ф.Ф. Идентификация элементной компонентной базы с целью исключения контрафакта и анализа результатов радиационных испытаний. Актуальные направления развития систем охраны, специальной связи и информации для нужд органов государственной власти Российской Федерации: XI Всероссийская межведомственная научная конференция: материалы и доклады (Орёл, 5–6 февраля 2019 года). В 10 ч. Ч. 5 / под общ. ред. П. Л. Малышева. – Орёл: Академия ФСО России, 2019. C. 65–67.

6. Кессаринский, Леонид Н. и др. Идентификация элементной компонентной базы киберфизических систем. Безопасность информационных технологий, [S.l.], № 3. C. 67–78, 2018. ISSN 2074-7136.
URL: (дата обращения: 12.02.2019). doi:http://dx.doi.org/10.26583/bit.2018.3.07.

7. Венедиктов К.А., Голубев А.А., Емельянова И.В., Малютенкова С.Э., Лактионов А.В., Звягина М.И., Ямщиков Ю.А. Выявление контрафактных электронных компонентов методами физико-технического анализа. Доклад на международной научно-технической конференции «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой» «Сертификация ЭКБ-2017». «РНИИ «Электронстандарт», Санкт-Петербург, 2017 г.

8. Перспективные технологии защиты микросхем от обратного проектирования в контексте информационной безопасности [Текст] / Е.Н. Белов, С.В. Балыбин, А.А. Пономарев [и др.]; под ред. В.Н. Федорца. –М.: Техносфера, 2017. – 215 с.

9. ГОСТ Р 57880-2017 Система защиты от фальсификаций и контрафакта. Электронные изделия. Предотвращение получения, методы обнаружения, сокращение рисков применения и решения по использованию фальсифицированной и контрафактной продукции.

10. Boby A. Detection and Avoidance Measures of IC Counterfeits: A Survey. Australian Journal of Basic and Applied Sciences, 8 (18) December 2014. P. 37–42.

11. Семенов А.В., Старцев В.Н., Степанов Е.Н. Технометрическая идентификация микросхем для контроля жизненного цикла и поиска контрафакта. «Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем. (МЭС)» №4/2018. C. 143–148.

12. Ujjwal Guin, Daniel DiMase, Mohammad Tehranipoor. «A Comprehensive Framework for Counterfeit Defect Coverage Analysis and Detection Assessment». Journal of Electronic Testing. February 2014. DOI 10.1007/s10836-013-5428-2.

13. Кессаринский, Леонид Н. и др. Выявление признаков контрафакта в изделиях электронной компонентной базы в аспекте обеспечения промышленной кибербезопасности. Безопасность информационных технологий, [S.2.], № 2. C. 117–128, 2019. ISSN 2074-7136.
URL: (дата обращения: 01.11.2019).

14. Ершов Л., Левин Р., Батурин А., Коломенская Н., Емельянова И., Кононов В. Что такое контрафакт и как с ним бороться. Нормативная основа и практика выявления контрафактных электронных компонентов. Электроника: наука, технология, бизнес. № 6 (156) 2016. Техносфера, Москва, C. 88–93.

15. Фролова А. «Основные методы определения контрафактной продукции. Из практики испытательной лаборатории ООО «ПетроИнТрейд». Вестник электроники № 3 /2011. С. 44–46.

16. Поддельные микросхемы ST TDA7293. Вскрытие показало. Радиодетали и электронные компоненты. Обзор. 12 мая 2018 г. www.Akinava.ru. URL:https://mysku.ru/blog/aliexpress/62915.html.

17. John M. Radman and Daniel D. Phillips.Новые подходы к обнаружению контрафактных электронных компонентов. Журнал «IN COMPLIANCE», OCTOBER 2010.

18. Даниэль Оливье. «5 методов, используемых для обнаружения контрафактных электронных компонентов». Бюллетень «JJS manufacturing». URL: https://www.jjsmanufacturing.com (дата обращения: 15. 03. 2018 г.)

19. Zhang X., Xiao K., Tehranipoor M. Path-delay fingerprinting for identification of recovered ICs // Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2012 IEEE International Symposium. 3–5 Oct. 2012. Р. 13–18. DOI: 10.1109/DFT.2012.6378192.

20. Кононов В.К., Ершов Л.А., Левин Р.Г. и др. Новые стандарты в области подтверждения соответствия и предотвращения контрафакта и подделок. Петербургский журнал электроники, 1/2015. C. 30–46.




DOI: http://dx.doi.org/10.26583/bit.2020.1.02

Ссылки

  • На текущий момент ссылки отсутствуют.


Лицензия Creative Commons
Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution» («Атрибуция») 4.0 Всемирная.