РАЗВИТИЕ ТЕРМИНОЛОГИИ НОРМАТИВНОЙ БАЗЫ ИСПЫТАНИЙ НА ВЫЯВЛЕНИЕ ПРИЗНАКОВ КОНТРАФАКТА В ИЗДЕЛИЯХ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ АППАРАТУРЫ ОБЪЕКТОВ КРИТИЧЕСКОЙ ИНФОРМАЦИОННОЙ ИНФРАСТРУКТУРЫ
Аннотация
Целью статьи является разработка предложений по формированию нормативного поля систем защиты от фальсификаций и контрафактной продукции, однозначно понимаемого набора терминов, сокращений и определений на основе гармонизированных отечественных и зарубежных стандартов в этой области. В программе цифровизации экономик развитых стран выделяется относительно новое направление развития так называемых киберфизических систем управления, в частности, промышленными технологическими процессами, что мотивирует постановку нетрадиционных задач по обеспечению безопасности критически важных объектов информационной инфраструктуры. Очевидной угрозой потери устойчивости технологических процессов является использование контрафактной элементной базы в условиях наблюдаемого общего увеличения доли контрафактной продукции, в том числе и в изделиях электронной компонентной базы. Поэтому появляется объективный запрос на системное решение проблемы выявления контрафакта не только с позиций охраны объектов интеллектуальной собственности, но и в аспекте обеспечения промышленной безопасности в ходе сертификации соответствующих технических решений. Учитывая, что для испытательных центров и лабораторий такая постановка связана с организацией достаточно нового вида деятельности в условиях недостаточности соответствующей нормативной базы. В работе проведен обзор зарубежных нормативных документов, определяющих методы и средства выявления контрафакта в радиоизделиях, который может быть использован в качестве начальной основы для формирования отечественной нормативной базы.
Ключевые слова
Полный текст:
pdfЛитература
1. Белов Е.Н., Пономарев А.А., Семенов А.В., Федорец В.Н. Угрозы информационной безопасности вооружения и военной специальной техники, укомплектованных электронной компонентной базой иностранного производства. Военная мысль. № 12, 2013. С. 35–43.
2. ГОСТ Р 57882-2017 Система защиты от фальсификации и контрафакта. Изделия электронные. Критерии верификации для оценки соответствия практики и методов организаций требованиям по противодействию обороту фальсифицированной и контрафактной продукции.
3. Постановление Правительства Российской Федерации № 127 от 08.02.2018 «Об утверждении Правил категорирования объектов критической информационной инфраструктуры Российской Федерации».
4. Лактионов А.В., Левин Р.Г., Емельянова И.В., Ершов Л.А., Малютенкова С.Э. Опыт выявления электронных компонентов с признаками контрафактного происхождения в ИЦ АО «РНИИ «Электронстандарт». Петербургский журнал электроники № 1 (90) 2018. С. 27–46.
5. Дураковский А.П., Кессаринский Л.Н, Ширин А.О., Артамонов А.С., Бойченко Д.В., Тайибов Ф.Ф. Идентификация элементной компонентной базы с целью исключения контрафакта и анализа результатов радиационных испытаний. Актуальные направления развития систем охраны, специальной связи и информации для нужд органов государственной власти Российской Федерации: XI Всероссийская межведомственная научная конференция: материалы и доклады (Орёл, 5–6 февраля 2019 года). В 10 ч. Ч. 5 / под общ. ред. П. Л. Малышева. – Орёл: Академия ФСО России, 2019. C. 65–67.
6. Кессаринский, Леонид Н. и др. Идентификация элементной компонентной базы киберфизических систем. Безопасность информационных технологий, [S.l.], № 3. C. 67–78, 2018. ISSN 2074-7136.
URL: (дата обращения: 12.02.2019). doi:http://dx.doi.org/10.26583/bit.2018.3.07.
7. Венедиктов К.А., Голубев А.А., Емельянова И.В., Малютенкова С.Э., Лактионов А.В., Звягина М.И., Ямщиков Ю.А. Выявление контрафактных электронных компонентов методами физико-технического анализа. Доклад на международной научно-технической конференции «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой» «Сертификация ЭКБ-2017». «РНИИ «Электронстандарт», Санкт-Петербург, 2017 г.
8. Перспективные технологии защиты микросхем от обратного проектирования в контексте информационной безопасности [Текст] / Е.Н. Белов, С.В. Балыбин, А.А. Пономарев [и др.]; под ред. В.Н. Федорца. –М.: Техносфера, 2017. – 215 с.
9. ГОСТ Р 57880-2017 Система защиты от фальсификаций и контрафакта. Электронные изделия. Предотвращение получения, методы обнаружения, сокращение рисков применения и решения по использованию фальсифицированной и контрафактной продукции.
10. Boby A. Detection and Avoidance Measures of IC Counterfeits: A Survey. Australian Journal of Basic and Applied Sciences, 8 (18) December 2014. P. 37–42.
11. Семенов А.В., Старцев В.Н., Степанов Е.Н. Технометрическая идентификация микросхем для контроля жизненного цикла и поиска контрафакта. «Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем. (МЭС)» №4/2018. C. 143–148.
12. Ujjwal Guin, Daniel DiMase, Mohammad Tehranipoor. «A Comprehensive Framework for Counterfeit Defect Coverage Analysis and Detection Assessment». Journal of Electronic Testing. February 2014. DOI 10.1007/s10836-013-5428-2.
13. Кессаринский, Леонид Н. и др. Выявление признаков контрафакта в изделиях электронной компонентной базы в аспекте обеспечения промышленной кибербезопасности. Безопасность информационных технологий, [S.2.], № 2. C. 117–128, 2019. ISSN 2074-7136.
URL: (дата обращения: 01.11.2019).
14. Ершов Л., Левин Р., Батурин А., Коломенская Н., Емельянова И., Кононов В. Что такое контрафакт и как с ним бороться. Нормативная основа и практика выявления контрафактных электронных компонентов. Электроника: наука, технология, бизнес. № 6 (156) 2016. Техносфера, Москва, C. 88–93.
15. Фролова А. «Основные методы определения контрафактной продукции. Из практики испытательной лаборатории ООО «ПетроИнТрейд». Вестник электроники № 3 /2011. С. 44–46.
16. Поддельные микросхемы ST TDA7293. Вскрытие показало. Радиодетали и электронные компоненты. Обзор. 12 мая 2018 г. www.Akinava.ru. URL:https://mysku.ru/blog/aliexpress/62915.html.
17. John M. Radman and Daniel D. Phillips.Новые подходы к обнаружению контрафактных электронных компонентов. Журнал «IN COMPLIANCE», OCTOBER 2010.
18. Даниэль Оливье. «5 методов, используемых для обнаружения контрафактных электронных компонентов». Бюллетень «JJS manufacturing». URL: https://www.jjsmanufacturing.com (дата обращения: 15. 03. 2018 г.)
19. Zhang X., Xiao K., Tehranipoor M. Path-delay fingerprinting for identification of recovered ICs // Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2012 IEEE International Symposium. 3–5 Oct. 2012. Р. 13–18. DOI: 10.1109/DFT.2012.6378192.
20. Кононов В.К., Ершов Л.А., Левин Р.Г. и др. Новые стандарты в области подтверждения соответствия и предотвращения контрафакта и подделок. Петербургский журнал электроники, 1/2015. C. 30–46.
DOI: http://dx.doi.org/10.26583/bit.2020.1.02
Ссылки
- На текущий момент ссылки отсутствуют.
Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution» («Атрибуция») 4.0 Всемирная.